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深圳市大伟兴科技有限公司
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CMI950

价格 ¥1.00
更新时间
2019-02-09 05:15:02
起订量
1件起批
服务
 资质已审查
发货地
广东省 深圳市
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产品介绍

CMI950

CMI950X射线荧光镀层测厚仪CMI950有着非破坏,CMI950非接触,CMI950多层合金测量,CMI950高生产力,高再现性等优点,CMI950在质量管理到不良品分析有着广泛的应用。CMI950用于电子元器件,半导体,PCB,汽车零部件,功能性电镀,装饰件,连接器等多个行业。主要特点样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) 可检测元素范围:Ti22 – U92 可同时测定5层/15种元素 精度高、稳定性好 强大的数据统计、处理功能 测量范围宽 NIST的标准片

CMI950X射线荧光测厚仪

技术参数

主要规格 规格描述 
X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统 
空冷式微聚焦型X射线管,Be窗 
标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等 
功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-标准 
75W(4-50kV,0-1.5mA)-任选 
装备有安全防射线光闸 
二次X射线滤光片:3个位置程控交换,多种材质、多种厚度的二次滤光片任选 
准直器程控交换系统 多可同时装配6种规格的准直器 
多种规格尺寸准直器任选: 
-圆形,如4、6、8、12、20 mil等 
-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等 

测量斑点尺寸 在12.7mm聚焦距离时,小测量斑点尺寸为:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器) 
在12.7mm聚焦距离时,大测量斑点尺寸为:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器) 
样品室 CMI900 CMI950 
-样品室结构 开槽式样品室 开闭式样品室 
-大样品台尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm 
-XY轴程控移动范围 标准:152.4 x 177.8mm 

 

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